压力衰减检漏仪

通过对包装或测试腔加压并监测保压阶段的压力变化,实现药品包装、医疗器械与柔性包装的无损气密性和微泄漏检测。

压力衰减检漏仪

产品简介

通过对包装或测试腔加压并监测保压阶段的压力变化,实现药品包装、医疗器械与柔性包装的无损气密性和微泄漏检测。

产品特点

  • 无损、定量,检测结果客观可追溯
  • 测试节拍快,适合实验室与产线应用
  • 测试压力、稳定时间与检测时间可按样品配置
  • 支持标准漏孔与阳性样品进行灵敏度确认
  • 可针对刚性容器、组件和柔性包装定制夹具

技术原理

压力衰减法(Pressure Decay)向被测件或密闭测试腔充入稳定气体,在达到设定压力后隔离气源,并持续监测压力随时间的变化。系统根据压力下降量与衰减速率判断是否存在泄漏,可通过标准漏孔建立泄漏率与压力变化之间的对应关系。

技术参数

性能参数
检测方法压力衰减法(Pressure Decay)
检测模式正压保压 / 压力衰减
测试压力按样品与工艺要求配置
结果输出压力变化 / 泄漏率 / 合格判定

软件与数据完整性

配套软件可支持用户权限、审计追踪、电子记录与受控报告导出。

方法开发与验证支持

支持使用标准漏孔或阳性样品进行灵敏度确认,并提供方法开发、IQ/OQ/PQ 与方法验证支持。

相关产品推荐

真空衰减法容器密闭完整性测试仪
包装密封性检测

真空衰减法容器密闭完整性测试仪

Vacuum Decay CCI Tester

基于 ASTM F2338 与 USP 1207 的确定性真空衰减法,对西林瓶、预灌封注射器、输液袋等包装进行无损密封完整性检测,灵敏度可达微米级泄漏孔。

西林瓶预灌封注射器输液袋安瓿瓶
高压放电法检漏仪 HVLD
包装密封性检测

高压放电法检漏仪 HVLD

High Voltage Leak Detector

适用于含液体注射剂的非破坏性 CCIT,通过高频高压放电检测玻璃/塑料容器的微孔与裂纹,对生物制剂友好,无需接触药液。

预灌封注射器西林瓶(液体)卡式瓶BFS
低压放电法检漏仪
包装密封性检测

低压放电法检漏仪

Low Voltage Leak Detector

针对安瓿瓶、玻璃西林瓶等刚性容器的密封性检测,放电能量更低,适配产线在线 100% 检漏与实验室质量控制。

安瓿瓶玻璃西林瓶