高压放电法检漏仪 HVLD

高压放电法检漏仪适用于绝缘包装中的导电液体产品,可通过高频高压电场检测微孔、裂纹和密封异常。 适用于含液体注射剂的非破坏性 CCIT,通过高频高压放电检测玻璃/塑料容器的微孔与裂纹,对生物制剂友好,无需接触药液。

高压放电法检漏仪 HVLD

产品简介

高压放电法检漏仪适用于绝缘包装中的导电液体产品,可通过高频高压电场检测微孔、裂纹和密封异常。 适用于含液体注射剂的非破坏性 CCIT,通过高频高压放电检测玻璃/塑料容器的微孔与裂纹,对生物制剂友好,无需接触药液。

产品特点

手册补充:高压放电检测能力

  • 适用于绝缘包装中的导电液体产品;通过高频高压电场识别微孔、裂纹及密封异常。

  • 可覆盖西林瓶、安瓿瓶、卡式瓶、预充式注射器、输液袋、输液瓶、BFS 与 PP 瓶等经评估的包装。

  • 支持旋转/移动电极扫描、瓶盖微漏检测与按包装定制的检测工装。

  • 可用于实验室方法开发、验证,以及按项目配置的在线检测。

  • 非破坏、非接触,适合含液体与生物制剂

  • 检测速度快,可用于在线 100% 检漏

  • 对针孔、裂纹、密封圈缺陷敏感

  • 对药液电导率适应范围广

  • 可对预灌封针帽/柱塞密封系统进行评价

能解决什么问题

  • 非破坏、非接触,适合含液体与生物制剂
  • 检测速度快,可用于在线 100% 检漏
  • 对针孔、裂纹、密封圈缺陷敏感
  • 对药液电导率适应范围广
  • 可对预灌封针帽/柱塞密封系统进行评价

技术原理

手册补充:电学检测机制

在容器两端附近施加高频高压电场并监测电流、功率或波形变化。完好包装与存在裂纹、针孔或密封缺陷的包装,其电容与导电路径不同;设备据此识别密封完整性异常。适用性需结合药液电导率、容器材质、规格和测试参数确认。

高压放电法(HVLD, High Voltage Leak Detection)利用高频高压在容器外部建立电场,完好容器具有高电阻、电流极小;当存在泄漏通道(微孔、裂纹、密封不良)时,泄漏处导电性增强、放电电流增大,据此判定密封缺陷。现代 HVLD 采用低电流、非接触设计,对蛋白、疫苗等敏感药液影响小。

技术参数

手册补充参数
适用药液电导率最低可至 1–5 μS/cm(需结合样品确认)
西林瓶适用尺寸直径 8–80 mm;高度 35–185 mm
输液袋适用规格100–3000 mL(需结合夹具确认)
测试电压8–30 kV(按项目设置)
检测分辨率最小 0.2 μm;典型产品约 1 μm(与包装和方法相关)
软件与合规(手册补充)
权限与审计支持多级权限、审计追踪、原始数据保存与 PDF 导出
合规参考USP <1207>、相关药品包装密封性技术要求
性能参数
检测方法高频高压放电法(HVLD)
适用药液广电导率范围液体制剂
检测模式实验室 / 在线 100% 检测
合规标准USP <1207> 确定性方法

软件与数据完整性

## 手册补充:数据与审计 软件可按项目配置多级用户权限、操作审计追踪、原始数据保存及 PDF 报告导出。 支持审计追踪与电子记录,满足数据完整性与 21 CFR Part 11 要求。

方法开发与验证支持

## 手册补充:方法开发与验证 可按项目提供 3Q 验证支持,并结合客户包装、药液电导率和阳性对照开展方法开发与灵敏度确认。 提供基于激光微孔阳性样品的灵敏度验证方案与 IQ/OQ/PQ 文档支持。

常见问题 FAQ